在石英晶體中，有很多技術(shù)術(shù)語、規(guī)格和復(fù)雜的物理特性，對(duì)于那些不直接從事石英晶振晶體行業(yè)工程級(jí)別工作的人來說，這些術(shù)語、規(guī)范和物理特性可能會(huì)讓他們不知所措。
它與晶體時(shí)鐘振蕩器的異常故障模式有關(guān)，可以通過有效和主動(dòng)的過程進(jìn)行測(cè)試并幾乎完全根除。
活性下降是晶體電阻的相對(duì)突然增加，即石英晶體串聯(lián)電阻（Rs）隨溫度的變化而發(fā)生的擾動(dòng)。通常，活性下降是由石英晶體中的干擾振動(dòng)模式（耦合模式）引起的。這些模式從主模式中釋放能量。因此，一旦耦合模式的頻率與主模式的頻率一致，耦合模式就急劇增加主模式的電阻。這些干擾模式實(shí)際上是低頻彎曲模式的高泛音（高達(dá)第50泛音）。它們的溫度系數(shù)非常陡峭，約為-20ppm/°C。因此，它們僅在相當(dāng)窄的溫度范圍內(nèi)與主模式頻率一致。可以設(shè)計(jì)出干擾模式。如果沒有設(shè)計(jì)出來，耦合模式將導(dǎo)致活動(dòng)下降。見圖1。

Q-Tech振蕩器QTCT5702C1B-24.576000活動(dòng)下降以及如何避免它們
它們的溫度通常相當(dāng)窄，大約5到30°C寬。對(duì)于給定的設(shè)計(jì)，活性下降將趨向于大約相同的溫度范圍。因?yàn)轳詈夏Ｊ绞腔?span style="font-size:18px;">石英晶體的，所以它導(dǎo)致的任何活動(dòng)隨時(shí)間和溫度的變化都是非常可重復(fù)的。請(qǐng)參閱下面的示例。
耦合模式的影響范圍從輕微到災(zāi)難性再到間歇性。這取決于干擾模式的強(qiáng)度以及應(yīng)用對(duì)振蕩器輸出電平的變化、大約2到20ppm的頻率偏移等的敏感程度。活動(dòng)性下降可能導(dǎo)致系統(tǒng)失去鎖相或其他類型的問題。
活性下降的另一個(gè)原因是顆粒粘附在晶體的活性區(qū)域上或附近。這種類型的活動(dòng)下降可以隨著時(shí)間、溫度和時(shí)間的變化而變化。這些將受到顆粒從晶體表面分離或移動(dòng)到另一個(gè)位置的影響。因此，這種位置的變化可能會(huì)導(dǎo)致下跌變得更好，更糟，至少暫時(shí)消失。此外，從未檢測(cè)到轉(zhuǎn)變?yōu)橥蝗话l(fā)生或在發(fā)生下降的溫度下改變幅度。
在Q-Tech，我們有能力圍繞潛在的活動(dòng)下降進(jìn)行設(shè)計(jì)和/或在溫度測(cè)試程序中篩選出它們。這只是我們成為世界上第一高可靠性振蕩器制造商的眾多原因之一。

（2） 電路設(shè)計(jì)：

a.放大器裕度和增益

b.負(fù)載電容

c.使放大器增益與晶體驅(qū)動(dòng)電平匹配

d.操作模式（基本模式與第三或第五Overtone模式）

e.工作溫度

f.附著晶體的方法